Kompüter ekranındakı nəticə o qədər qeyri-adi idi ki, ilk baxışda ölçmə xətası kimi görünürdü. Amma bu dəfə elm adamlarının qarşısında mikrodalğa elektronikası üçün çoxdan axtarılan bir ipucu ola bilərdi.
2009-cu ilin gec saatlarında Nate Orloff laboratoriyada tək idi və Cornell University-dən Darrell Schlom tərəfindən göndərilən eksperimental nazik təbəqələrin ölçmələrini analiz edirdi.
“Mümkünsüz” görünən nəticə nə idi?
Söhbət mikrodalğa elektronikasında istifadə oluna bilən, həm aşağı itkiyə malik, həm də tənzimlənə bilən dielektrik materialdan gedir. Bu iki xüsusiyyətin eyni materialda birləşməsi uzun müddət çox çətin, hətta praktiki olaraq əlçatmaz hesab olunurdu.
Aşağı itki siqnalın daha az zəifləməsi deməkdir. Tənzimlənə bilənlik isə materialın elektrik xüsusiyyətlərini ehtiyaca görə dəyişməyə imkan verir.
Mikrodalğa elektronikası üçün əsas yenilik budur: material həm aşağı itki göstərir, həm də tənzimlənə bilir.
Niyə bu, texnologiya üçün vacibdir?
Belə materiallar radar sistemləri, rabitə avadanlıqları, sensorlar və yüksək tezlikli elektron komponentlər üçün böyük əhəmiyyət daşıya bilər. Çünki mikrodalğa diapazonunda işləyən cihazlarda enerji itkisi performansa birbaşa təsir edir.
Əgər dielektrik material daha az itki ilə işləyirsə, cihazlar daha səmərəli, daha dəqiq və potensial olaraq daha kompakt ola bilər. Bu da gələcək nəsil elektronika üçün ciddi üstünlük yaradır.
Cornell laboratoriyasından başlayan iz
Darrell Schlom-un komandası tərəfindən hazırlanmış nazik təbəqələr Nate Orloff-un analizləri ilə diqqət mərkəzinə düşdü. Ekranda görünən nəticələr adi laboratoriya göstəricilərindən daha çox, yeni material yanaşmasının siqnalı kimi görünürdü.
Bu cür kəşflər çox vaxt böyük məhsul təqdimatları kimi səs-küylü olmur. Amma illər sonra smart rabitə sistemlərinin, daha güclü sensorların və daha effektiv mikrodalğa komponentlərinin arxasında məhz belə material elmi dayana bilər.
Nəticə: Cornell-də aparılan bu araşdırma göstərir ki, mikrodalğa elektronikası üçün “mümkünsüz” sayılan material xüsusiyyətləri bəzən sadəcə düzgün nazik təbəqəni və diqqətli ölçməni gözləyir.